












測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um

新聞資訊
News時間:02-26 2026 來自:祥宇精密
影像測量儀的光學系統通常由鏡頭、濾光片、分光鏡、光柵尺等核心光學元件組成。這些元件通過精密配合,將工件的光學信號轉換為可被CCD相機捕捉的圖像信息,是實現高精度測量的基礎。光學元件的性能直接決定了成像清晰度、測量重復性和穩定性。一旦光學元件發生老化或損壞,可能導致成像模糊、測量誤差增大,甚至影響儀器正常工作。
光學元件的老化是一個自然過程,但也受多種外部因素影響:
祥宇影像測量儀作為專業測量設備,在光學元件選材和設計上均采用了高標準:
盡管如此,祥宇影像測量儀的光學元件并非“永不老化”,而是會隨著使用時間和環境條件的變化,其性能會逐漸衰減。這種老化是一個緩慢的過程,通常在正常使用和良好維護條件下,高質量光學元件的壽命可達數年甚至十年以上。但如果不加以重視,老化速度會明顯加快。
用戶可以通過以下現象初步判斷光學元件是否出現老化跡象:
如果出現上述情況,應及時聯系專業技術人員進行檢查和維修。
雖然光學元件老化不可避免,但通過科學的使用和維護,可以顯著延緩其老化速度:
400-801-9255
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